產(chǎn)品名稱：高倍測量顯微鏡
產(chǎn)品型號：PZ-JTM-6090C
產(chǎn)品簡介：主要用于LCD、PDP、PCB等相關(guān)的光電產(chǎn)業(yè)，為其研發(fā)、制造提供所需的檢測設(shè)備。具有觀察OLB壓接粒子分布、液晶板表面貼附的異物、液晶板劃傷情況、測量導(dǎo)電粒子大小、數(shù)量等功能。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

高倍測量顯微鏡是一種兼顧影像、目視與納米高度測量多用的高精度、率測量儀器。該產(chǎn)品具有電視成像與目視光學(xué)兩套瞄準(zhǔn)系統(tǒng)，可人工觀察金屬表面的金相組織結(jié)構(gòu)，是集光、機(jī)、電、算、影像于一體的顯微鏡。該產(chǎn)品以二維測量為主，也可作三維輔助測量，應(yīng)用于電子組件、精密模具、塑料、PCB加工方面、鍍膜厚度、手機(jī)玻璃等工業(yè)領(lǐng)域。

1. Z軸光柵尺分辨力為0.1μm

2. X、Y軸采用空氣軸承、花崗石導(dǎo)向，保證了機(jī)械系統(tǒng)的穩(wěn)定，提高了測量精度

3. X、Y、Z三軸伺服控制，定位精度高、速度快，運(yùn)行平穩(wěn)

4. 同軸光/底光測量

5. 內(nèi)置偏光測量光學(xué)模塊

6. 測量軟件，高清晰1/2"彩色攝像機(jī)

7. 可通過激光指示器尋找被測工件的具體位置，可適應(yīng)復(fù)雜工件的測量

8. 可實(shí)現(xiàn)Z軸自動(dòng)對焦

9. 具有偏光和DIC檢測功能

10. 可搭配白光納米檢測模塊測量納米級厚度

規(guī)格參數(shù)：